Patterns in NPD: searching for consistent configurations.

Hyväksytty

Luokittelutiedot

OKM-julkaisutyyppi
B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa
Laji
B. Vertaisarvioimattomat tieteelliset kirjoitukset
Referoitu
Ei
Alalaji
B3. Artikkeli konferenssijulkaisussa
Tyyppi
1

Julkaisun tekijät

Tekijät
deWeerd-Nederhof Petra;Bos Ger;da Silva Gomes Jorge;Kekäle Tauno;Visscher Klasjaan
Paikalliset tekijät
Tekijä
Kekäle, Tauno

Julkaisukanavan tiedot

Emojulkaisun nimi
Proceedings of the R&D Management Conference 2005
Emojulkaisun toimittajat
Kooinstra Daphne;Butler Jeff
Kustantaja
Scuola Superiore Sant'Anna Pisa, Politecnico de Milano & RADMA
Kansainvälisyys
Kyllä

Julkaisun tarkemmat tiedot

Julkaisuvuosi
2005
Ilmoitusvuosi
2005
Julkaisukieli
englanti

Yhteisjulkaisutiedot

Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei

Luokitukset ja lisätiedot

Lisätietoja
A pilot of Dutch, Finnish and Portuguese cases.